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File:LT-SEM snow crystal magnification series-3.jpg

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原始檔案 (900 × 3,994 像素,檔案大小:1.5 MB,MIME 類型:image/jpeg


摘要

描述
English: Low temperature scanning electron microscope [1] magnification series, from 93× to 36,000× magnification series, of a snow crystal. Most samples of snow crystals are observed by researchers at relatively moderate magnifications (30×–500×), however the capabilities of the electron microscope allow observation of fine structures at over 100,000×. The following set of photographs demonstrates a magnification series using a low temperature scanning electron microscope (LT-SEM) covering this range. By contrast, the light microscope is only capable of viewing meaningful details at magnifications of about 1,000× and is very limited in depth of field. Snow samples are very fragile and exposure to the light necessary to photograph them, using light microscopes, can change structures and even melt them. Using LT-SEM, samples are frozen to temperatures below −170 degrees Celsius where they can be placed in a vacuum and observed for many hours with no structural changes. These photographs show the extraordinary symmetry of snow crystals even at high magnification. Magnification bars are accurate but X factors (lower left) are for 8"×10" prints.
日期 original upload to English Wikipedia on 20 March 2005
來源 Created by Brian0918 from images at: http://www.anri.barc.usda.gov/emusnow/Magnification/Magnification.htm
作者
其他版本 Image:LT-SEM snow crystal magnification series-3 frame.jpg – Showing just the first frame in the series

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目前2007年3月11日 (日) 09:44於 2007年3月11日 (日) 09:44 版本的縮圖900 × 3,994(1.5 MB)JuloPrzywrócono poprzednią wersję
2005年9月16日 (五) 12:41於 2005年9月16日 (五) 12:41 版本的縮圖900 × 3,994(1.5 MB)Saperaud~commonswikiLow temperature scanning electron microscope [http://www.anri.barc.usda.gov/emusnow/4100/4100.htm] magnification series, from 93x to 36,000x magnification series, of a snow crystal. <br><br>''Most samples of snow crystals are observed by researche

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