近场光学示意图,衍射光从NSOM的光纤探针出来,此图可以看到光波长。[1]
分别使用NSOM(上)和传统的共轭焦焦显微镜 (下)来比较二硫化钼薄片的光致发光记录,比例尺长度:1微米。[2]
近场扫描光学显微镜 (NSOM/SNOM)是一个 显微镜 技术,用于结构调查,其利用渐逝波的特性打破远场中衍射极限 。 在SNOM, 激发激光光透过一个直径小于激光波长的孔径聚焦,从而在孔径的远端产生消逝场。[3] 当样品在短距离地在孔径下扫描,光学分辨率只跟孔径的直径有关。 此时,横向分辨率可达20 纳米、垂直分辨率可达2-5 纳米。[4][5]
如光学显微镜、此机制可以用于研究的不同性质,例如 折射率、化学结构和侷域压力。也可以研究在次波长分辨率下的动态特性。
NSOM/SNOM是一种扫描探针显微镜.
参考文献
- ^ (学位论文).
- ^ Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan, Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander; Zhang, Jie. Visualizing nanoscale excitonic relaxation properties of disordered edges and grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide. Nature Communications. 2015, 6: 7993. Bibcode:2015NatCo...6E7993B. PMC 4557266
. PMID 26269394. doi:10.1038/ncomms8993.
- ^ Germany, WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, Ulm,. SNOM || WITec. www.witec.de. [2017-04-06]. (原始内容存档于2021-02-28) (美国英语).
- ^ Dürig, U.; et al. Near-field optical scanning microscopy. J. Appl. Phys. 1986, 59 (10): 3318. Bibcode:1986JAP....59.3318D. doi:10.1063/1.336848.
- ^ Oshikane, Y.; et al. Observation of nanostructure by scanning near-field optical microscope with small sphere probe. Sci. Technol. Adv. Mater. (free access). 2007, 8 (3): 181. Bibcode:2007STAdM...8..181O. doi:10.1016/j.stam.2007.02.013.
外部链接
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| 常见 | | Typical atomic force microscopy set-up |
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| 其他 | |
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| 应用 | |
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| 参阅 | |
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光学显微镜 |
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| | | 照明和 对比方法 | | |
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| 荧光方法 | |
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| 亚衍射极限 显微技术 | |
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